Ders AdıKodu Yerel KrediAKTS Ders (saat/hafta)Uygulama (saat/hafta)Laboratuar (saat/hafta)
Characterization TechniquesMSE443223200
ÖnkoşullarYok
YarıyılBahar
Dersin Diliİngilizce
Dersin SeviyesiLisans
Dersin TürüSeçmeli @ Metalürji ve Malzeme Mühendisliği Lisans Programı (İngilizce)
Ders KategorisiTemel Meslek Dersleri
Dersin Veriliş ŞekliYüz yüze
Dersi Sunan Akademik BirimMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Bölümü
Dersin KoordinatörüFigen Kaya
Dersi Veren(ler)Figen Kaya
Asistan(lar)ı
Dersin AmacıMalzemelerin dıştaki özelliklerinin tümünün iç yapının sonucu oluştuğu gözönüne alınarak malzemelerin iç yapılarının ışık metal mikroskobunda ve elektron mikroskoplarında incelenerek yapı özellik ilişkisinin kazandırılması.
Dersin İçeriğiMalzeme Yapı özellik ilişkisine giriş/ Makroskobi/ Metalografi/ Işık metal mikroskobunda inceleme için numunelerin seçilmesi, kesilmesi, montesi, zımparalanması, parlatılması , dağlanması ve bu işlemlerde dikkat edilecek hususlar/ Transmisyon Işık Mikroskobu çalışma prensipleri/Refleksiyon Işık Mikroskobu Çalışma Prensipleri/Aydınlık Alan Görüntülemesi/Karanlık Alan Görüntülemesi/ Polarize Işık Mikroskobu/ Nomarski Mikroskobisi/ Konfokal Mikroskobu/ Elektron mikroskoplarına giriş/ Taramalı Elektron mikroskoplarının yapısı/ Ayırma gücü/ İkincil Elektron ile Kontrast Oluşturma/ Gerisaçılmış Elektronlarla Kontrast Oluşumu/SEM’ de çeşitli numunelerin incelenmesi ve irdelenmesi/ Geçirimli Elektron Mikroskobu Çalışma Prensipleri/TEM'de Aydınlık Alan Görüntülemesi/TEM'de Karanlık Alan Görüntülemesi/X Işını OLuşumu/ Difraksiyon ve Faz analizi/Seçili Alan Difraksiyon Patterni ile Faz Analizi/ TEM için numune hazırlama yöntemleri/ SEM için numune hazırlama yöntemleri/ Hazırlanan numunelerin incelenmesi (dislokasyon, ikiz hataları, yığılma hataları, vd) ve irdelenmesi/ TEM’ de çeşitli numunelerin incelenmesi ve irdelenmesi /
Ders Kitabı / Malzemesi / Önerilen Kaynaklar
  • Materials Characterization. Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Yang Leng, JohnWiley
  • Materials Chemistry, B.D.Fahlman, Springer Publishing, ISBN:978-1-4020-6119-6
  • ASM Handbook, Volume 10, Materials Characterization, ISBN: 0-87170-007-7
  • Electron Microscopy and Analysis, P.J.Goodhews, J.Humphreys, R.Beanland. Taylor and Francis Publishing, ISBN: 0 7484 0968 8
Opsiyonel Program BileşenleriYok

Ders Öğrenim Çıktıları

  1. Yapı analizinin ışık metal mikroskobu ve elektron mikroskobu kullanarak yapma bilgi ve becerisini kazanır.
  2. Modern mühendislik donanımlarını kullanma becerisi kazanır
  3. Elde ettiği sonuçları analiz ederek yorumlama becerisi kazanır.
  4. Sorumluluk alma ve ilke sahibi olma özelliği kazanır.
  5. Etkin yazılım ve sözlü iletişim kurma becerisi kazanır.

Haftalık Konular ve İlgili Ön Hazırlık Çalışmaları

HaftaKonularÖn Hazırlık
1Malzeme Karakterizasyonuna Giriş, Optik Spektroskopi; Optik Emisyon Spektroskopisi, İndükleyici Plazma Atomik Emisyon Spektroskopisi, Atomik Emisyon Spektrometresi, Mor ötesi Işın Absorpsiyon Spektroskpisi, Floresan Spektroskopisiİlgili Kaynaklar
2X-Işını Spektroskopisi; X-Işını Spektrometresi, Parçacık İndüksiton Emisyonu, Kızıl Ötesi Işın Spektroskopisi, Raman Spektroskopisiİlgili Kaynaklar
3Kütle Spektroskopisi; Ateşleme Kaynağı Kütle Spektroskopisi, Kütle Spektroskopisi ile Gaz Analiziİlgili Kaynaklar
4Geleneksel, Elektrokimyasal ve Radyokimyasal Analizler; Yaş Analiz Kimyası, Potansiyometrik Eleman Elektrodları, Voltmetre, Elektrogravimetri, Elektrometrik Titrasyon, Potansiyel Kontrollü Kalorimetreİlgili Kaynaklar
5Elementel ve Fonksiyonel Grup Analizi, Yüksek Sıcaklıkta Yanma, İnert Ortamda Füzyon, Nötron Aktivasyonlu Analiz, Radyoanalizİlgili Kaynaklar
6Rezönans Yöntemleri; Elektron Dönme Rezönansı, Ferromanyetik Rezönans, Nükleer Manyetik Rezönans, Massbauer Spektroskopisiİlgili Kaynaklar
7Metalografi Teknikleri; Optik Metalografi, Görüntü Analiziİlgili Kaynaklar
8Ara Sınav 1
9Ara Sınavİlgili Kaynaklar
10X-Işını Topografisi, Radyal Dağılım Fonksiyonu, Küçük Açılı X-Işını ve Nötron Saçılması, Genişletilmiş X-Işını Absorpsiyonu, Nötron Difraksiyonuİlgili Kaynaklar
11Elektron Mikroskobisi; Tarama Elektron Mikroskobu, Transmisyon Elektron Mikroskobuİlgili Kaynaklar
12Düşük Enerjili İyon Saçılma Spektroskopisi, Rutherford Spektroskopisiİlgili Kaynaklar
13Alan İyon Mikroskobu,İlgili Kaynaklar
14Kromatografi; Gaz Kromatografisi, Sıvı Kromatografisi, İyon Kromatografisiİlgili Kaynaklar
15Final

Değerlendirme Sistemi

EtkinliklerSayıKatkı Payı
Devam/Katılım
Laboratuar
Uygulama
Arazi Çalışması
Derse Özgü Staj
Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği
Ödev
Sunum/Jüri130
Projeler
Seminer/Workshop
Ara Sınavlar130
Final140
Dönem İçi Çalışmaların Başarı Notuna Katkısı
Final Sınavının Başarı Notuna Katkısı
TOPLAM100

AKTS İşyükü Tablosu

EtkinliklerSayıSüresi (Saat)Toplam İşyükü
Ders Saati152
Laboratuar
Uygulama
Arazi Çalışması
Sınıf Dışı Ders Çalışması131
Derse Özgü Staj
Ödev115
Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği
Projeler
Sunum / Seminer
Ara Sınavlar (Sınav Süresi + Sınav Hazırlık Süresi)15
Final (Sınav Süresi + Sınav Hazırlık Süresi)115
Toplam İşyükü :
Toplam İşyükü / 30(s) :
AKTS Kredisi :
Diğer NotlarYok