Ders AdıKodu Yerel KrediAKTS Ders (saat/hafta)Uygulama (saat/hafta)Laboratuar (saat/hafta)
Karakterizasyon TeknikleriMEM443223200
ÖnkoşullarYok
YarıyılBahar
Dersin DiliTürkçe
Dersin SeviyesiLisans
Dersin TürüSeçmeli @ Metalürji ve Malzeme Mühendisliği Lisans Programı
Ders KategorisiTemel Meslek Dersleri
Dersin Veriliş ŞekliYüz yüze
Dersi Sunan Akademik BirimMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Bölümü
Dersin KoordinatörüFigen Kaya
Dersi Veren(ler)Figen Kaya, H.Aygül YEPREM
Asistan(lar)ı
Dersin AmacıBu dersin amaçları, i) malzeme karakterizasyonunun malzeme üretim ve uygulamalarındaki öneminin öğretilmesi, ii) metalurji ve malzeme Mühendisliği alanında yaygın olarak kullanılan tekniklerin öğretilmesi, iii) tekniklerden elde edilen sonuçların irdelenmesi, iv) endüstriyel uygulamalar açısından örnekler üzerinden analiz ve yorum kabiliyetlerinin öğrenciye kazandırılmasıdır.
Dersin İçeriğiMalzeme karakterizasyonunda yaygın olarak kullanılan mikroskobik, termal ve spektroskobik yöntemler
Ders Kitabı / Malzemesi / Önerilen Kaynaklar
  • Materials Characterization. Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Yang Leng, JohnWiley
  • Materials Chemistry, B.D.Fahlman, Springer Publishing, ISBN:978-1-4020-6119-6
  • ASM Handbook, Volume 10, Materials Characterization, ISBN: 0-87170-007-7
  • Electron Microscopy and Analysis, P.J.Goodhews, J.Humphreys, R.Beanland. Taylor and Francis Publishing, ISBN: 0 7484 0968 8
Opsiyonel Program BileşenleriYok

Ders Öğrenim Çıktıları

  1. Mikroskoplar ve spektroskopların temel fiziksel çalışma prensiplerini anlama becerisi kazanır.
  2. İçyapı- özellik ilişkisinin mikroskoplar ve spektroskoplar yoluyla analiz edilmesi bilgi ve becerisini kazanır.
  3. Modern mühendislik donanımlarını kullanma becerisi kazanır.
  4. Elde ettiği sonuçları analiz ederek yorumlama becerisi kazanır.
  5. Etkin yazılım ve sözlü iletişim kurma becerisi kazanır.

Haftalık Konular ve İlgili Ön Hazırlık Çalışmaları

HaftaKonularÖn Hazırlık
1Karakterizasyon Tekniklerine Girişİlgili Kaynaklar
2Optik Mikroskopta Görüntü oluşumuİlgili Kaynaklar
3Işığın Girişimi ve Polarizasyonu, Polarize ışık mikroskobuİlgili Kaynaklar
4Diferansiyel Girişim Kontrast (DIC) ve Konfokal Mikroskoplarıİlgili Kaynaklar
5Elektron- Katı Malzeme Etkileşimiİlgili Kaynaklar
6X Işınlarının Girişimi, XRD, XRF, XPSİlgili Kaynaklar
7Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM), SEM-EDX, SEM-WDXİlgili Kaynaklar
8Ara Sınav 1
9İlgili Kaynaklar
10TG- DTA, DSCİlgili Kaynaklar
11Yüzey Alanı ve PoroziteGaz adsorbsiyon ölçümü (BET)İlgili Kaynaklar
12Atomik Absorbsiyon ve Atomik Emisyon Spektrometreleriİlgili Kaynaklar
13Ara Sınav 2İlgili Kaynaklar
14FI-IR, Raman Spektrometresi, Tane Boyutu Ölçümü Yöntemleriİlgili Kaynaklar
15Final

Değerlendirme Sistemi

EtkinliklerSayıKatkı Payı
Devam/Katılım
Laboratuar
Uygulama
Arazi Çalışması
Derse Özgü Staj
Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği
Ödev130
Sunum/Jüri
Projeler
Seminer/Workshop
Ara Sınavlar130
Final140
Dönem İçi Çalışmaların Başarı Notuna Katkısı
Final Sınavının Başarı Notuna Katkısı
TOPLAM100

AKTS İşyükü Tablosu

EtkinliklerSayıSüresi (Saat)Toplam İşyükü
Ders Saati162
Laboratuar
Uygulama
Arazi Çalışması
Sınıf Dışı Ders Çalışması141
Derse Özgü Staj
Ödev115
Küçük Sınavlar/Stüdyo Kritiği
Projeler
Sunum / Seminer
Ara Sınavlar (Sınav Süresi + Sınav Hazırlık Süresi)210
Final (Sınav Süresi + Sınav Hazırlık Süresi)115
Toplam İşyükü :
Toplam İşyükü / 30(s) :
AKTS Kredisi :
Diğer NotlarYok